濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司
整機(jī)外罩對(duì)外界水蒸氣阻隔性能的監(jiān)控方案
檢測(cè)樣品：整機(jī)外罩
檢測(cè)項(xiàng)目：水蒸氣阻隔性能
方案概述：電子元器件對(duì)周圍水蒸氣含量要求嚴(yán)格，因此用于其外殼的整機(jī)外罩應(yīng)具有很高的阻濕性，防止電子元器件出現(xiàn)老化等質(zhì)量問(wèn)題。本文利用Labthink蘭光自主研發(fā)制造的W3/230水蒸氣透過(guò)率測(cè)試系統(tǒng)對(duì)整機(jī)外罩樣品進(jìn)行水蒸氣透過(guò)率測(cè)試，通過(guò)詳細(xì)介紹設(shè)備測(cè)試方法、測(cè)試原理及試驗(yàn)過(guò)程，為相關(guān)電子器件生產(chǎn)企業(yè)嚴(yán)控外殼阻濕性提供有效的監(jiān)控方案。
整機(jī)外罩對(duì)外界水蒸氣阻隔性能的監(jiān)控方案
摘要：電子元器件對(duì)周圍水蒸氣含量要求嚴(yán)格，因此用于其外殼的整機(jī)外罩應(yīng)具有很高的阻濕性，防止電子元器件出現(xiàn)老化等質(zhì)量問(wèn)題。本文利用Labthink蘭光自主研發(fā)制造的W3/230水蒸氣透過(guò)率測(cè)試系統(tǒng)對(duì)整機(jī)外罩樣品進(jìn)行水蒸氣透過(guò)率測(cè)試，通過(guò)詳細(xì)介紹設(shè)備測(cè)試方法、測(cè)試原理及試驗(yàn)過(guò)程，為相關(guān)電子器件生產(chǎn)企業(yè)嚴(yán)控外殼阻濕性提供有效的監(jiān)控方案。
關(guān)鍵詞：電子元器件、老化、整機(jī)外罩、水蒸氣透過(guò)率、阻濕性、水蒸氣透過(guò)率測(cè)試系統(tǒng)
1、意義
現(xiàn)今，人類對(duì)提高電子元器件的使用壽命的研究日益深入，而其外包裝的有效阻濕性對(duì)其使用壽命的延長(zhǎng)至關(guān)重要。因在高濕的環(huán)境下零部件易受潮，導(dǎo)致在使用過(guò)程中塑體與零部件引腳處產(chǎn)生裂縫，進(jìn)而引起殼體滲漏，芯片逐漸受潮失效。因此，電子元器件生產(chǎn)企業(yè)通常在電子元器件外面添加整機(jī)外罩裝置，以阻隔水蒸氣，保護(hù)內(nèi)部元器件，防止出現(xiàn)提前老化的現(xiàn)象。進(jìn)而，生產(chǎn)企業(yè)應(yīng)嚴(yán)格監(jiān)控整機(jī)外罩包裝的阻濕性能。
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